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X射線衍射技術在藥物分析中有著廣泛的應用。X射線衍射技術是一種用于研究物質結構的分析方法，它通過測量X射線在晶體中的衍射角度，來確定晶體的結構。這種技術在藥物分析中具有很多應用。自藥典和法規對涉及藥物晶型研究相關的問題時，X射線衍射技術在藥物分析中的應用開始增加，為藥物研發、生產和質量控制提供重要的技術支持。常見的有下面幾種。藥物API晶型分析藥物雜質分析（堿式碳酸鑭雜質定量）結晶度分析原位分析在藥物成分鑒定、藥物合成監測、藥物制劑分析、藥物與生物分子相互作用研究、藥物溶解度...

許多壽命測量方法，如QSSPC、μPCD或CDI，以及MDP在極低的注入濃度下都存在異常高的測量壽命。這種效應是由于樣品中的捕獲中心造成的。這些捕獲中心對于了解材料中載流子的行為非常重要，并且也會對太陽能電池產生影響。因此，需要以高分辨率來測量缺陷密度和這些缺陷中心的活化能。借助MDPmap和MDPingot，可以通過一次測量來測量光電導率以及少數載流子壽命，并在寬注入范圍內實現全自動測量。巧妙的算法可以確定樣品中的缺陷濃度。根據注入相關壽命曲線，可以確定低注入下的壽命τLL...

鋰離子電池，由于其具有高能量密度和體積能量密度，循環壽命長，無記憶效應等優點，越來越受到市場和消費者的青睞，這也推動了鋰離子電池的快速發展和針對其研究的不斷深入。XRM憑借著其能在無損情況下表征樣品真實三維結構的特點，在近些年逐漸成為鋰電池研究中的重要表征手段之一，且應用范圍也在不斷擴展。實例一軟包電池多尺度表征BrukerSkyscan2214樣品整體掃描，11um局部高分辨掃描，正極，1um局部高分辨掃描，隔膜，0.15um電池正極顆粒粒徑分布（左圖）及孔徑分布（右圖）實...

藥物大部分以晶體的形式存在，利用X射線衍射，我們可以獲得每種不同的晶型的藥物特征的衍射信息。如同指紋一樣，在數據庫中每種晶型都有特征的衍射圖譜。即使對于含有多成分的固體制劑而言，其中原料藥與輔料各自對應的粉末X射線衍射圖譜不會發生變化，可作為藥物晶型定性判斷的依據。因而對于未知的藥物樣品，通過PXRD，我們可以很快通過比對實測圖中的衍射峰的位置，強度，從已有數據庫中查到原料藥的晶體結構相匹配的衍射圖譜，從而準確鑒定該藥物的晶型。PXRD對于藥物晶型的定性研究主要分為兩個方面：...

局域結構是指構成材料的原子或離子在幾個晶胞尺度范圍內（具體來說，使用X射線等探針對目標樣品進行散射實驗后，獲得的信號強度I隨Q的分布函數I（Q）（Q=4πsinθ/λ）中同時包含了相干散射、非相干散射以及背景信號，扣除背景后按照下式進行處理從而獲得全散射函數S(Q)：而后，對S(Q)-1以Q為權重處理后（即Q[S(Q)-1]，也被稱作F(Q)），再進行傅里葉變換，即可得到對分布函數G(r)：對于不同結構的材料，其原子對的分布規律也各不相同，圖1展示了立方堆積和六方堆積的G(r...

1925年PierreAuger在威爾遜云室中發現了俄歇電子，并進行了理論解釋，俄歇電子以他的名字命名。1953年，JamesJosephLander使用了電子束激發俄歇電子能譜，并探討了俄歇效應應用于表面分析的可能性。1967年LarryHarris提出了微分處理來增強AES譜圖信號。美國明尼蘇達大學的RolandWeber,PaulPalmberg和他們的導師BillPeria進行的研究揭示了俄歇電子能譜的表面靈敏特性，研制了早期商用俄歇表面分析儀器（如圖1所示），并基于...

晶圓片在線面掃檢測儀是一種用于半導體行業的高精度設備，通過實時檢測和分析晶圓片表面的缺陷和污染物，提高半導體生產質量。作為半導體制造過程的重要環節，在線面掃檢測儀能夠提供高效、準確的檢測和分析，幫助半導體工廠及時發現和解決潛在問題，保證產品質量和可靠性。該在線面掃檢測儀利用高分辨率的光學傳感器和圖像處理技術，能夠對晶圓片表面進行快速、全面的檢測。它能夠檢測并分類各種缺陷和污染物，如劃痕、斑點、氣泡、污染和裂紋等，提供精確的位置和尺寸信息。通過分析采集到的圖像和數據，在線面掃檢...

高分辨率X射線衍射(HRXRD)是一種強大的無損檢測方法，其研究對象主要是單晶材料、單晶外延薄膜材料以及各種低維半導體異質結構。普遍用于單晶質量、外延薄膜的厚度、組分、晶胞參數、缺陷、失配、弛豫、應力等結構參數的測試?，F代HRXRD與常規XRD的區別主要體現在：（1）高度平行且高度單色的高質量X射線；（2）不僅要測試倒易格點的位置（角度），還要測試倒易格點的形狀（缺陷）；（3）更高的理論要求-動力學理論。GaN做第三代半導體，目前用于電力電子、高頻器件和發光二極管(LED)技...