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具有寬帶隙的碳化硅基半導體，在制備各種高頻、高溫和大功率電子器件方面具有非常有前景。因此，提高SiC晶圓的質量，解決SiC制造工藝的高成本和低成品率是目前工業生產緊迫的問題之一[1]。而對于在線批量生產，檢測SiC晶圓的質量不能不能對其表面產生損傷，因此需要使用高分辨率、非破壞性表面檢測技術。表面光電壓（SPV）技術是一種研究光活性材料中電荷分離和轉移過程的先進方法[2]。光生載流子在空間上的分離和表面光生載流子的演化有關。因此，該技術靈敏度高、非接觸式并且在表面監測中不具有...

混凝土材料是一種不同于鋼材、瀝青等建筑材料的非均相復合結構，表現在微觀上，主要呈現出內部的多孔形態、微裂紋的不確定性以及骨料與水泥漿的界面效應等，即使是強度高性能混凝土，也會不同程度地含有微孔隙和微裂紋，這就使得對混凝土各組分微結構孔隙和性能進行試驗并調試變得尤為重要，而采用無損檢測技術，尤其是XRM技術對混凝土微結構孔隙及界面進行分析是當前逐步興起，并已證明是較為有效的一種檢測方法，具有精度高、可持續性好等諸多優點。實例一利用XRM對再生混凝土的微觀結構進行表征，Skysc...

材料的性能往往由其物相（物相是指試樣中由各種元素形成的具有固定結構的化合物，也包括單質元素和固溶體）組成所決定，而不是簡單的與元素組成相關。比如都是由C組成的無定性碳、石墨、金剛石三種材料性能差別非常大。因此，分析材料的物相組成非常重要，而XRD作為物相分析的主要手段之一被廣泛應用。任何結晶物質均具有特定結晶結構（結晶類型，晶胞大小及質點種類，數目，分布）和組成元素。一種物質有自已衍射譜與之對應，多相物質的衍射譜為各個互不相干，單獨存在物相衍射譜的簡單疊加。本文以復雜的多相材...

近些年來，XRM技術開始逐漸廣泛應用于土壤學和植物科學，研究土壤性質、土壤微生物對土壤性質的影響、植物根發育及其內部結構、內部養分運輸機制等等。而隨著發展的深入，目前XRM技術也開始被應用于植物地上結構的研究中。實例一木材內部多孔結構及木質部導管表征，BrukerSkyscan1273,7um.木材內部多孔結構正交三視圖及局部放大表征木材內部整體結構三維表征（左圖）木材木質部導管三維分布表征（右圖）實例二土壤內部孔隙結構三維表征及定量分析，BrukerSkyscan1275，...

在藥物研發中，晶型研究貫穿著從先導化合物篩選到終的藥物上市的各個階段。同一藥物的不同晶型在外觀、溶解度、熔點、溶出度、生物有效性等方面可能會有明顯不同，從而影響藥物的穩定性、質量、生產、生物利用度，療效以及安全性。從18世紀苯甲酰胺兩種晶型的發現開始，到創新藥“優勢藥物晶型”的尋找，以及仿制藥“一致性評價”的需要，晶型研究已成為藥物研發過程中的重要內容之一。對于企業而言，藥物晶型定量研究除了對藥品質量控制有重大意義外，在知識產權方面，藥物晶型產權也是重點關注的內容。在商業層面...

作為一種非破壞性的表面敏感技術，X射線反射率（XRR）普遍用于薄膜厚度和粗糙度的表征。當X射線的入射角高于臨界角時，X射線束可以部分地透射進薄膜從而在界面反射。在一個理想平面上，根據菲涅耳方程，X射線的反射率以系數下降。此外，反射強度也受薄膜表面和界面的粗糙度影響。納米尺度范圍的粗糙表面可因誘導的漫散射而進一步降低反射強度。因此，可以通過擬合XRR曲線來確定薄膜表面和界面的粗糙度。同時，表面和界面反射光束之間的干涉會在XRR曲線上產生周期性振蕩，即所謂的Kiessig條紋。通...

在材料科學和物理學領域，對物質內部結構的深入了解對于新材料的開發和基礎研究至關重要。布魯克X射線衍射儀(X-rayDiffractometer，簡稱XRD)是一種強大的分析工具，它能夠通過非破壞性的方式揭示晶體結構的詳細信息，從而幫助科學家探索物質的微觀世界。X射線衍射儀的工作原理是基于X射線與晶體格點之間的相互作用。當一束單色X射線照射到樣品上時，樣品中的原子會散射這些射線。由于晶體中原子的周期性排列，不同位置的散射波會相互干涉，形成特定的衍射圖案。這些衍射圖案可以被探測器...

三維重構成像X射線顯微鏡(3DReconstructionImagingX-rayMicroscope)是一種先進的顯微鏡設備，利用X射線技術進行高分辨率的非破壞性成像，能夠對微觀結構進行三維重構和分析。它在材料科學、生物學、納米技術等領域中廣泛應用，為科學家提供了獨特的觀察和研究微觀世界的能力。三維重構成像X射線顯微鏡的工作原理基于X射線的穿透和散射原理。它通過使用高能X射線束照射樣品，并采集樣品對X射線的相應散射和吸收信號。利用先進的探測器和成像算法，X射線顯微鏡能夠獲取...