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當前位置：首頁產品中心三維X射線顯微鏡（XRM）D8多晶X射線衍射儀檢測

多晶X射線衍射儀檢測
產品簡介

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以進行多晶X射線衍射儀檢測。

產品型號：
更新時間：2024-09-12
廠商性質：代理商
訪問量：2295
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多晶X射線衍射儀檢測

 

項目

細則

收費

說明

單掃一張圖譜

看d值，相對強度，不包括物相分析；每樣每次長15min，延長時間按100元15min計，不足15min按15min計

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1.長時間數據手機（大于5h）、復雜樣品等特殊測試，價格需面議

晶胞參數測定

已知的純物相，掃描時間≤30min；掃描時間超過30min，延長時間按200元/30min計，不足30min按30min計

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晶粒尺寸測定

已知的純物相，掃描時間≤30min；掃描時間超過30min，延長時間按200元/30min計，不足30min按30min計

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高分子結晶度測試

已知的確定物相，掃描時間≤1h；掃描時間超過1h，延長時間按200元/30min計，不足30min按30min計

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階梯掃描法

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物相半定量

僅限于兩種已知物相，掃描時間≤1h；掃描時間大于1h，延長時間按200元/30min計，不足30min按30min計；多出物相，另加100元/相

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多晶X射線衍射儀檢測

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司向大家提供保證！
*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

倫琴實驗室：400-100-9267 歡迎咨詢

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