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PRODUCTS CENTER當前位置:首頁產品中心高分辨率X射線成像系統Skyscan1275高分辨三維X射線顯微成像系統
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借助高分辨三維X射線顯微成像系統——Skyscan1275,我們可以直觀觀測到微孔隙的空間分布,并對連通性和滲透性、各類粘土礦物空間分布,混層粘土礦物混層比以及自生礦物空間分布等方面進行分析和計算。
?特點介紹:
♦保護樣品:無需制備樣品,無損三維重現
♦對樣品的細節檢測能力(分辨率)高達:4µm
♦大掃描樣品直徑:96mm; 大掃描樣品長度:100mm
♦超快的測量速度:通常3-8分鐘測完一個樣品,快達80秒
♦*的一鍵式操作模式:自動識別樣品大小、自動調整放大倍數、自動快速掃描、自動重建 以及自動體繪制得到樣品的三維可視化圖像
♦高強度微焦斑X射線光源:20-100kV連續可調,*免維護
♦快速、無失真 CMOS探測器:1944 x 1536像素(300萬像素),高達26幀/秒的讀取速度
♦基于細分驅動步進電機的四軸精密機械臂,用于樣品的精準定位
♦樣品腔內置500萬像素彩色光學相機可更方便地實時觀察樣品位置,并隨時保存圖像(BMP, JPG 或 PNG格式)
♦二維/三維數據分析,面/體繪制軟件實現三維可視化,終結果可輸出到手機或者平板電腦上(iOS and Android),并導出STL文件用于3D打印
?地質樣品
了解更多應用方向,請致電束蘊儀器(上海)有限公司
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