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Omega/Theta XRD Mapping面掃功能掃臺允許使用受控的網格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據用戶定義的網格進行掃描。由于樣品上X射線光斑的大小，小的網格間距約為1毫米。

Omega/Theta XRD - X射線晶體定向儀用于超快速的晶體定向、生產中的晶體排列、質量控制、搖擺曲線測量、材料研究等。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他100多種材料。