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關于XRD非晶態定量相分析,你了解多少?

更新時間:2020-08-06點擊次數:11431

 

材料中所有物相含量,包括非晶相的含量,對于材料的性能至關重要。為了全面了解材料的性能,很多行業都關注非晶態的含量,如水泥業、礦物及采礦業(無序粘土)、聚合物、制藥業等。
 

1、XRD非晶態定量相分析的困難

 

利用XRD進行晶態相的定量相分析,理論基礎完善,分析方法比較成熟,有大量相關文獻,好多方法集成到相關軟件中。然而,對非晶態定量分析還存在不少困難,主要有以下幾點:

 

 

 

  ♦ 非晶漫散峰在XRD圖譜中往往不是很明顯,特別是含量較低時

  ♦ 較寬的漫射峰會增加衍射峰重疊問題

  ♦ 難以區分衍射峰拖尾、非晶漫散峰以及背底強度(如下圖中紅、綠和藍線,哪條線是真正的背底呢?)

 

?

 

2、XRD非晶態定量相分析方法

 

然而,困難歸困難,方法還是有的。XRD非晶態定量相分析的方法主要有兩類:單一衍射峰法和全譜分析法。

 

 

 

2.1 單一衍射峰法


單一衍射峰法的原理就是建立非晶態含量(標樣)和非晶漫散包的峰高強度的關系曲線(Wamorphous=A+Bh,其中h為非晶漫散包的凈高強度,其可由峰位平均強度減去背底強度得到)。這樣,定標曲線建完后,只要測出未知樣品非晶包的凈高度,就可以根據上式計算出非晶態的含量。

 

 

2.2 全譜分析法

 

根據上述討論,單一衍射峰法原理很簡單,但實際操作比較復雜,需要提供幾種不同非晶態含量的標樣來建立定標曲線。如果沒有非晶標樣,單一衍射峰法很難實現。另外,有時非晶峰不只一個,這時我們也無法采用單一衍射峰法。因此實際操作中,往往采用全譜分析法來計算非晶態的含量。

 

1 常規全譜擬合法常規全譜擬合法

 

方法介紹

 

首先,找到一個和非晶相相同化學結構的晶態相,假定非晶相是此晶相的微小晶粒,此晶相可以用于建立非晶相峰位和強度的模型;2)其次,先擬合純非晶相的譜線,以確定晶粒尺寸和微觀應變;3)后,固定晶粒尺寸和微觀應變,將此物相包括在傳統的Rietveld定量計算中,即可得到非晶態的含量。

 

 

 

常規全譜擬合法

 

優點和局限性

 

優點:不需要準備標樣;可以處理多個非晶相;非晶相的強度因子(ZMV)由晶相的結構因子決定;該法為直接計算非晶相含量的方法。局限性:有的非晶相找不到對應的晶相結構。


2 內標法內標法

 

方法介紹

 

1)在樣品中加入一定量的物相作為內標;

2)將非晶相忽略或作為背底處理,使用正常的Rietveld定量計算,各個物相的重量百分比為:

 

 

 3)所有非晶相的含量可以由以下公式計算:

 

 

4)內標法為間接法計算非晶態含量。

 

內標法

 

優點和局限性

 

優點:非晶相峰形可以用背底函數處理;數學處理簡單,結果較為準確;很容易集成到任何Rietveld 分析軟件。局限性:需要準確的晶相組成,否則定量結果是非晶和未知晶相的和;樣品污染;樣品制備麻煩,對工業界不合適;加入的內標物質和待分析的樣品要有相近的X射線吸收系數,否則會造成吸收誤差。
 

3 外標法外標法

 

方法介紹

 

外標用來確定儀器常數K:

 

將整個樣品的質量吸收系數μm和利用外標計算的儀器常數K,代入Rietveld定量相分析,即可得到所有物相含量,包括非晶相含量;3)與內標法相似,外標法也是通過差值計算非晶含量,為間接計算。

 

 

 

外標法

 

優點和局限性

 

優點:間接法;使用外標,不污染樣品。局限性:需要知道整個樣品的質量吸收系數;歸一化常數隨時間變化,需要定期重新確定。

 

4 PONKCS法PONKCS法

 

方法介紹

 

PONKCS(PartialOr No Known Crystal Structure)法,即部分已知或是未知晶體結構定量相分析方法,它不僅適用于非晶態定量相分析,也適用于未知結構的晶態相定量分析;2)經典的 Rietveld 定量方法需要根據結構參數計算所有晶態物相的ZMV值,我們是否能夠通過某種方法確定未知物相的ZMV值呢?答案是肯定的。未知結構的ZMV值可通過測量目標物相(α)和內標物相(s)的混合試樣得到。混合試樣中,Wα和Ws已知,則:

 

 

(ZMV)α沒有實際的物理意義,只是定量相關的參數。這樣只要計算出非晶相的ZMV值,就可以代入經典的Rietveld定量分析求出非晶態含量。

 

PONKCS法

 

優點和局限性

 

優點:可定量未知結構物相;晶相和非晶相都可以包含在計算中;可同時處理多個非晶相。局限性:至少需要一個已知配比混合樣品以獲得未知物相的ZMV值。 

 

5 結晶度(Degree of Crystallinity,DOC)的計算結晶度的計算

 

方法介紹

 

1)測量樣品的全譜,可以明顯的看到非晶相的包絡線;

 

 

2)分別計算晶相和非晶相的積分面積:Crystalline Area=所有晶相衍射峰的積分面積和Amorphous Area=所有非晶相衍射峰的積分面積和3)結晶度(DOC)為晶態面積占總面積的比例:

 

3)          

4)除去結晶的部分,就是非晶態的含量。

 

結晶度的計算

 

優點和局限性

 

優點:不需要準備標樣;結晶相和非晶相定義明確;結晶和非晶相衍射強度分別計算。局限性:有時不好定義非晶相;復雜曲線處理困難;非晶相衍射強度和背底重合;要求晶相和非晶相的化學組成相同。 

 

3、非晶態定量方法總結

 

1)使用何種非晶相定量方法,取決于樣品的性質和對定量精度的要求;2)對于不同的定量方法,從理論上講,非晶相的定量精度和晶相應該是一樣的,理想的誤差是1% 或更低;3)樣品的性質和測量方法決定了測量精度;4)如果非晶相的衍射強度非常不明顯,尤其是在低含量的時候,使用內標(spiking)定量會準確些,但要注意任何晶相的分析誤差都會轉移到非晶相結果;5)如果樣品非晶峰明顯,使用全譜擬合或PONKCS法會更方便。 

 

4、應用舉例:PONKCS法非晶態定量相分析

 

1 樣品描述非晶態樣品為玻璃,且有純相,被用來作為PONKCS相。用來確定ZMV校準常數的樣品為玻璃和剛玉的混合樣品,配比為1:1。

 

2 PONKCS法非晶態定量相分析具體步驟

 

  1)調入純非晶相的XRD數據“Sample 1.raw”。

  2)光源文件選擇CuKa5;背底選擇3級多項式。

  3)按下表輸入儀器參數:

 

 

4)“Corrections”選項,LP factor選擇0;5)插入4個峰(峰形SPV)來描述非晶信號,并運行擬合。工具欄中點擊“Show Background Curve”,即可看到精修后的背底信號(如下圖中傾斜的灰色線所示)。

 

 

 

6)固定背底,并刪除Peak phase。

 

 

 

7)右鍵Sample1.raw數據,點擊“Add hkl Phase”。在hkl_Phase里面,按下圖輸入空間群和晶胞參數,同時選中“Cry Size L”,設定初始值為3.5 nm,限定其值介于3.3~3.7之間,然后運行擬合。

 

 

 

 

8)取消“Delete hkls on Refinement”后的對號。選擇 “Scale”后的方框,在“Value”輸入0.00001,再將Fix改為Refine。同時固定晶粒尺寸Cry size L。

 

 

9)選擇“hkls Is”界面,把強度I設為固定值。

 

 

10)在參數窗口,右鍵Sample1.raw,選擇“Replace Scan Data”,找到Sample2.raw(用于確定ZMV的標樣,玻璃和剛玉1:1混合試樣)。

 

 

11)調入剛玉的結構文件:Corundum.Str。12)Background選擇“Refine”,在“Corrections”界面選中“Sample Displacement”,并將其code改為“Refine”,同時在“Corundum”的“Microstructure”界面選中“Cry Size L”和“Strain L”,并“Refine”。之后運行擬合。13)點擊“hkl_phase”,在cell mass欄輸入一個任意初始值,并逐漸改變該值,使計算的內標含量跟加入值一樣(50%),此時的值即為該非晶相對應的ZM值)。

 

 

 

14)右鍵“hkl_Phase”,點擊Save Phase,保存建好的結構文件,命名為Glass。默認為inp格式,保存之后把文件的擴展名改為Str。此結構文件可作為該非晶相的PONKCS結構文件用于定量分析使用。

 

 

 

15)調入另外一個數據Sample4.raw,用剛才的非晶相PONKCS結構文件(Glass.str),進行Rietveld無標定量相分析,可得實際樣品中的非晶態玻璃相的含量為75.24%。

 

 

 

 

 

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